JEM 2100F 高分辨透射电子显微镜

JEM 2100F 是一款先进的透射电子显微镜，在同类显微镜中，它的分析功能最强、获得的图像质量最高。束斑尺寸在0.5nm以下，可以快速地获得超高分辨率图像，使原子尺度的结构分析更简便。

主要功能：

基础研究；固体物质微结构研究；高分辨显微术；晶体结构及晶体缺陷分析；物质微区元素成分测定；先进材料制备方法、性能与结构关系的研究。

技术参数：

1. 点分辨率：0.19nm ；

2. 线分辨率：0.14nm ；

3. 加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV ；

4. 倾斜角：±25°；

5. TEM分辨率：0.20nm。