型号：Zetatrac
特点及性能：探头式设计，实际背景测量，无需比色皿等容器，消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。无须更换样品池，同时测量尼米颗粒大小和Zeta电位，避免样品交叉污染与浓度变化，一键得到结果。
型号：Zetatrac
特点及性能：探头式设计，实际背景测量，无需比色皿等容器，消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。无须更换样品池，同时测量尼米颗粒大小和Zeta电位，避免样品交叉污染与浓度变化，一键得到结果。