扫描探针显微镜SPM

型号： Dimension ICON型

特点及性能： SPM利用具有纳米量级曲率半径的微探针在样品表面往复扫描从而获得样品表面的细微结构，拥有可同时获得样品表面纳米量级形貌及特定物性特征的能力。 SPM主要应用于纳米材料科学研究以及其它需对样品表面的微纳米结构进行表征的相关研究领域。成像范围： 70μm×70μm×5μm； 

分辨率：   横向0.1nm， 纵向0.01nm；

样品尺寸： 直径<= 200mm， 厚度<= 15mm；

成像模式： ScanAsyst模式、Contact模式、Tapping模式、Lift模式。